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合金分析仪,镀层分析仪,贵金属分析仪

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用于合金材料、镀层膜厚、贵金属分析、快速无损检测,准确可靠

产品详情

 

应用领域

 

EDXRF合金分析仪

 

合金由两种或两种以上的金属或金属与非金属经一定方法所合成的具有金属特性的物质。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得。根据组成的元素的数目,可分为二元合金,三元合金以及多元合金。在合金生产和使用过程中,需要对合金的成分和牌号进行测定和甄别,特别是对关键元素的化学成分鉴别尤为重要。
       XRF是确定物质中元素的种类和含量的一种方法,利用原级X射线激发待测物质中的原子使之产生特征X射线(X光荧光),进行物质成分分析和化学态研究,具有谱线特征明显、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点,能实现对合金材料的高效、快速、无损的检验。
       艾利特克的合金分析仪可广泛应用于钢铁冶炼、机械制造与加工、军事装备制造、维修和处废、航空航天工业、船舶和汽车制造、金属资源回收、贵金属生产加工等多个领域,可以对金属材料成分进行快速无损检测。包括:

材料成分分析

  • 在生产制造各种应用场景下,可快速分析合金成分,判定合金牌号:
  • 铁基合金:高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢等;
  • 钴合金、镍合金、镍/钴耐热合金、钛合金等;
  • 铜合金、青铜、锌合金、钨合金等;
  • 贵金属:金、银、铂、钯等

材料可靠性鉴别(PMI)
       用于生产制造质量控制,对金属原材料、半成品和成品进行检测,可以快速进行“合格”、“不合格”判定,防止混料和不合格原料导致的质量风险。

贵金属检测
       贵金属主要指金、银和铂族金属(钌、铑、钯、锇、铱、铂)等8种金属元素,国家质检总局发布的国家标准GB/T18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》中明确指出可使用X荧光来进行贵金属含量的无损检测方法。

金属回收
在金属回收过程中,对铁基、铜基、铝基、贵金属等各种金属材料进行快速分析鉴别,为交易估值和分类回收提供参考数据。

◆ 镀层膜厚测量

可用于一元镀层、二元镀层和多元镀层膜厚测量。

合金分析仪


 

主要优势

 

◆ 系统设计科学

        自主ULS光路系统,可有效降低干扰,提高光子探测效率和检测性能,良好的导热设计,提高了仪器的稳定性和重复性。

◆ 硬件和软件配置高

       搭载新一代低功耗高性能多核处理器和Elemtrack低噪声高稳定性信号处理系统,可以高效应对复杂光谱数据计算、提高检测精度,内置专用合金分析软件和先进的X射线荧光光谱解谱算法,保证测试的准确性,一体化触摸屏设计人机界面友好、操作便捷。

◆ 安全可靠

      实时显示X射线状态,具有自动感知被测物体距离、自主关断X射线激发等多重防护功能;

      采用先进的防辐射结构模组可有效屏蔽杂散X射线,避免操作者辐射暴露风险。

◆ 检测性能好

      仪器采用自主的iX技术,在获得光子高计数率的同时,可有效提高峰背比和分辨率,搭配Elemtrack的XRF算法,可获得很高的准确性、稳定性和重复性。

 


 

技术规格和参数

 

测量元素范围

从Mg到U

测量含量范围

含量 ppm~99.99%,膜厚1um~60um

仪器尺寸

480mm×450mm×305mm

仪器重量

23Kg

工作温度

-10℃ ~50℃

X射线源

50KV/1mA

探测器

高性能硅漂移探测器

滤波片

程控6位滤波片组合,可自动切换

计算机系统

低功耗双核4线程处理器,主频2.3GHz、内存:4G、10.1寸触控显示屏

操作系统

Windows10

应用软件

Elemtrack专用合金分析软件

数据接口

USB╳3

网络接口

RJ45╳1

供电

220VAC

安全防护

X射线状态显示、X射线急停设计、防辐射屏蔽设计

 


 

艾利特克